Hochauflösendes Zweistrahlgerät FIB SEM für die Chipanalyse
Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Beschaffungsamt des BMI · Bonn · Nordrhein-Westfalen
Beschreibung
Lieferung eines Zweistrahlgeräts zur FIB / SEM für die Chipanalyse
KI-Eignungsanalyse
Diese Ausschreibung wird gerade von unserer KI analysiert. Die Branchenzuordnung, Schwierigkeitsbewertung und Eignungsanalyse sind in Kürze verfügbar.
Preiseinschätzung
Basierend auf 62 vergleichbaren Vergabeergebnissen:
Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.
Ähnliche Ausschreibungen
Verfahrensverlauf
Vollständige Historie dieses Vergabeverfahrens — alle Phasen und Veröffentlichungen.
-
Änderung Sie sind hier
Ausschreibung wurde angepasst
1 Veröffentlichung
- Frist 23.03.2023 Korrektur der Angaben. aktuell
-
Vergabeergebnis
Auftrag wurde zugeschlagen
Auftragnehmer FEI Deutschland GmbHZuschlagswert 2.679.481 €1 Veröffentlichung
📬
Ähnliche Ausschreibungen per E-Mail
Erhalten Sie automatisch passende Aufträge — bevor Ihre Wettbewerber davon erfahren.