Waferprober
Technische Universität München · München · Bayern
Beschreibung
Gegenstand der Anschaffung ist ein Wafer Prober für den elektrischen Test von Halbleiterwafern mit einer Größe von 150 mm bis 300 mm.
KI-Eignungsanalyse
KI-generiertBranche: Gesundheitswesen & Medizintechnik
Beschaffung eines Wafer Probers für den elektrischen Test von Halbleiterwafern (150-300 mm).
Hinweis: Diese Kurzanalyse wurde automatisiert von einem KI-Modell erstellt und ist ausschließlich ein Hilfsmittel zur schnellen Orientierung. Sie ersetzt keine Prüfung der Original-Vergabeunterlagen und ist keine Eignungs- oder Rechtsberatung. Die verbindlichen Angaben entnehmen Sie bitte der Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de.
Preiseinschätzung
Basierend auf 38 vergleichbaren Vergabeergebnissen:
Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.
Verfahrensverlauf
Vollständige Historie dieses Vergabeverfahrens — alle Phasen und Veröffentlichungen.
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2 Veröffentlichungen
- Frist 26.02.2026 In der Leistungsbeschreibung wurden Angaben korrigiert; die Angebotsfrist und auch die Frist für die Bieterfragen wurden deshalb verlängert
- Frist 17.02.2026 Original-Veröffentlichung aktuell
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