Technische Universität München · München · Bayern
Beschreibung
Gegenstand der Anschaffung ist ein Wafer Prober für den elektrischen Test von Halbleiterwafern mit einer Größe von 150 mm bis 300 mm.
KI-Eignungsanalyse
KI-generiertBranche: Gesundheitswesen & Medizintechnik
Beschaffung eines Wafer Probers für den elektrischen Test von Halbleiterwafern (150-300 mm).
Hinweis: Diese Kurzanalyse wurde automatisiert von einem KI-Modell erstellt und ist ausschließlich ein Hilfsmittel zur schnellen Orientierung. Sie ersetzt keine Prüfung der Original-Vergabeunterlagen und ist keine Eignungs- oder Rechtsberatung. Die verbindlichen Angaben entnehmen Sie bitte der Bekanntmachung auf oeffentlichevergabe.de.
Weitere Pflichtangaben aus der Bekanntmachung
CON-0001
Preiseinschätzung
Basierend auf 38 vergleichbaren Vergabeergebnissen:
Statistische Auswertung öffentlicher Zuschlagswerte. Keine Preisempfehlung.
Ähnliche Ausschreibungen
Verfahrensverlauf
Vollständige Historie dieses Vergabeverfahrens — alle Phasen und Veröffentlichungen.
-
Ausschreibung
Angebote werden eingeholt
-
Vergabeergebnis Sie sind hier
Auftrag wurde zugeschlagen
1 Veröffentlichung
- 01.04.2026 Original-Veröffentlichung aktuell
📬
Ähnliche Ausschreibungen per E-Mail
Erhalten Sie automatisch passende Aufträge — bevor Ihre Wettbewerber davon erfahren.