FGW Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe e. V. · Remscheid · Nordrhein-Westfalen · Nachgeordnete Behörde
Prozessroute disruptive Werkzeuge Los 1: FIB-REM-Grundgerät Los 2: Analytik
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Wonach der Auftraggeber das wirtschaftlichste Angebot ermittelt.
Für das Zuschlagskriterium Qualität werden die in der Leistungsverzeichnissen (Anlagen 1a - b) mit B gekennzeichneten Bewertungskriterien zu Grunde gelegt.
Summe aller Positionen aus den Leistungsverzeichnissen für Lieferung und Inbetriebnahme einschließlich Schulung; ohne Optionen
Quelle: Bekanntmachung (eForms) — Gewichtung wie vom Auftraggeber veröffentlicht.
Wichtige Bedingungen für Angebot und Ausführung — wie vom Auftraggeber bekannt gemacht.
Die Vergabestelle ist der Auffassung, dass es sich bei der Vergabe nicht um einen öffentlichen Auftrag nach § 99 Abs. 1 GWB handelt. Die Vergabestelle ist weder öffentliche Auftraggeberin im Sinne von § 99 Nr.1 des Gesetzes gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) noch im Sinne von § 99 Abs, 1 Nr. 2 GWB. Vorbehaltlich der vorgenannten Rechtsauffassung weist die FGW darauf hin, dass ein Nachprüfungsantrag nur zulässig ist, soweit 1. der Antragsteller den gerügten Verstoß gegen Vergabevorschriften im Vergabeverfahren erkannt und gegenüber der Vergabestelle innerhalb von spätestens 10 Tagen gerügt hat; 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Angebotsabgabe oder zur Bewerbung gegenüber der Vergabestelle gerügt werden; 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, spätestens mit Ablauf der in den Vergabeunterlagen benannten Frist zur Abgabe erster indikativer Angebote gegenüber der Vergabestelle gerügt werden; 4. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens innerhalb von 15 Kalendertagen nach Eingang der Mitteilung der Vergabestelle, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, gestellt wird. Weitere Einzelheiten können § 160 GWB entnommen werden.
Quelle: Bekanntmachung (eForms). Maßgeblich sind die vollständigen Vergabeunterlagen.
Vollständige Historie dieses Vergabeverfahrens — alle Phasen und Veröffentlichungen.
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KI Gegenstand der Ausschreibung ist die Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops mit EDXS-Analysesystem inklusive Installation, Wartung und Support.
KI Die Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg beabsichtigt die Erneuerung eines Rasterelektronenmikroskops (FEI XL30) inklusive Software und Analytik-Hardware.
KI Die Universität Bayreuth schreibt im offenen Verfahren als Lieferleistung die Anschaffung eines in situ Rasterelektronenmikroskops (in situ SEM) aus, das für die lokale, multiskalige operando Analytik von heterogenen Katalysatoren und Batteriematerialien eingesetzt werden soll.
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